検査計測解析エンジニア（次世代開発）
Inspection & Metrology Data Analysis Engineer
開発段階の半導体デバイスの品質・信頼性向上を担う。各製造プロセスにあるシリコンウェーハを非破壊検査し、欠陥や形状の問題点をモニターする「先端検査計測チーム」、検査計測によって得られたデータを分析し原因解明する「データ分析・解析チーム」がある。
検査計測解析エンジニア（次世代開発）
理学研究科 宇宙地球科学を専攻。入社以来、開発中デバイスの製造プロセス内で発生する欠陥の検査・データ分析に携わる。入社4年目より、シリコンウェーハ上に形成したデバイス構造が狙い通りであるかどうかを調べる計測も担当。検査計測分野の専門家として知見を深め、発見の難易度が高い欠陥をモニターできるような新たな手法の開発をめざす。
T.O 2019年入社
職務内容
デバイス開発の製造プロセスにおける検査・データ分析
私は「先端検査計測チーム」にて、主に開発中の半導体デバイスの欠陥検査技術を担当しています。製造プロセスをモニタリング、半導体加工時に出るダストなどナノオーダーの欠陥を最先端の検査装置を用いて検査します。目に見えないレベルのダストでも、製造プロセスに無視できない影響を与えます。不良発生を防ぐためにも、品質向上に大きく貢献できる仕事です。また、装置メーカーと協力し、新たな検査機器や検査技術を関係部門と開発します。
魅力を教えて！
新しい最先端検査技術で欠陥を可視化
これまで可視化できなかった欠陥について新規手法を開発、製造プロセスの改善に貢献できたときは特にやりがいを感じます。会議の資料で私が開発した技術が活用されているのを見たときは、誇らしい気持ちになります。想定外の欠陥をいかに発見できるかどうかも、腕の見せ所です。たとえ異常を検知したとしても、大事にならない欠陥も存在します。製造プロセスに悪い影響を与える欠陥といえるのかを含め製造プロセス全体を俯瞰して見る視野が必要ですし、なにより欠陥であると報告するためにロジックを一つひとつ積み重ねる作業が欠かせません。そのため、論理的思考が得意だという方であれば学んできた学問に限らずやりがいを感じられる仕事です。